AVIOR Flip-chip Prober (FP) Series – Giải pháp kiểm thử Flip-chip và quang học tối ưu

MPI AVIOR Flip-chip Prober (FP) Series được thiết kế để đáp ứng những yêu cầu kiểm thử tiên tiến nhất trong lĩnh vực bán dẫn, laser diode và module quang học. Với khả năng hỗ trợ nhiều cơ chế tiếp xúc và các tùy chọn quang học linh hoạt, AVIOR FP mang lại sự chính xác, tốc độ và hiệu quả trong kiểm thử điện – quang tích hợp.

Tính năng nổi bật của AVIOR Flip-chip Prober (FP) Series

• Đa dạng cơ chế tiếp xúc: hỗ trợ Probe Card Holder, Wedge Probe Card và mô-đun đầu dò đơn MPI F1.

• Linh hoạt quang học: cung cấp nhiều lựa chọn thu và ghép ánh sáng chính xác để phù hợp với yêu cầu kiểm thử của từng ứng dụng.

• Hỗ trợ toàn diện các phương án kiểm thử điện – quang:

  • Thăm dò điện phía trên wafer + đo quang phía dưới.

  • Kiểm thử đồng thời cả hai bề mặt trên/dưới của wafer.

• Phần mềm điều khiển prober MPI: bao gồm căn chỉnh wafer, lập bản đồ, kiểm tra vết tiếp xúc và tích hợp công nghệ tiên tiến Needle Alignment Mechanism (NAM) để tăng độ chính xác.

• Hệ thống kiểm thử quang học MPI: thiết kế thân thiện với người dùng, dễ dàng cấu hình và lập trình theo yêu cầu kiểm thử đặc thù.

• Tính linh hoạt cao: hỗ trợ nhiều “test recipe” giúp người dùng dễ dàng thay đổi quy trình hoặc tham số phù hợp với sản phẩm.

• Quản lý sản xuất tối ưu: giao diện phần mềm trực quan, tích hợp giám sát và báo cáo theo thời gian thực, hỗ trợ vận hành liên tục không giám sát.

• Tích hợp liền mạch: dễ dàng kết nối với thư viện thiết bị đo lường phong phú của MPI cũng như các thiết bị đo của bên thứ ba.

Ứng dụng tiêu biểu

• Kiểm thử wafer Flip-chip, VCSEL, EEL.

• Đo lường quang – điện tử cho module quang học.

• Sản xuất và R&D trong lĩnh vực bán dẫn, viễn thông, quang tử.