Giới thiệu Cantilever Probe Card
Cantilever Probe Card của MPI được ứng dụng rộng rãi trong kiểm thử wafer có bump vàng và pad nhỏ, phục vụ các dòng chip driver hiển thị, logic và bộ nhớ.
Với thiết kế tiên tiến, sản phẩm đáp ứng những yêu cầu khắt khe nhất như fine pitch, pad kích thước nhỏ, tốc độ cao, số chân kết nối lớn, độ rò điện thấp và ít cần vệ sinh.
Tính năng nổi bật
-
Hỗ trợ kiểm thử nhiều DUT (multi-DUT) với cấu hình chéo (diagonal) hoặc xếp tầng (shelf).
-
Giảm biến dạng nhiệt trong quá trình kiểm thử ở nhiệt độ cao hoặc thấp.
-
Giải pháp tốc độ cao với cấu trúc R+ và U+, đáp ứng yêu cầu nghiêm ngặt về Power Integrity (PI) và Signal Integrity (SI).
-
Tiếp xúc ổn định, điện trở thấp nhờ sử dụng vật liệu probe tiên tiến.
-
Thời gian giao hàng nhanh, phù hợp với giai đoạn nghiên cứu và phát triển sản phẩm.
Thông số kỹ thuật chính
-
Loại probe: Cantilever
-
Ứng dụng: Driver hiển thị, Logic, Bộ nhớ
-
Đặc điểm: Fine pitch, pad nhỏ, multi-DUT, high pin count
-
Tốc độ kiểm thử: High speed test
-
Độ tin cậy: Ultra-low leakage, low contact resistance
-
Nhiệt độ hoạt động: Ổn định cả ở nhiệt độ cao và thấp
Ứng dụng trong ngành bán dẫn
Cantilever Probe Card là lựa chọn lý tưởng cho:
-
Kiểm thử wafer trong phòng lab R&D.
-
Thiết bị bán dẫn yêu cầu độ chính xác cao.
-
Các dự án cần tốc độ đưa sản phẩm ra thị trường nhanh (Time-to-Market).
Tại sao chọn MPI Cantilever Probe Card?
MPI là một trong những nhà cung cấp probe card hàng đầu thế giới, được tin dùng nhờ:
-
Chất lượng chế tác tinh xảo.
-
Thiết kế sáng tạo và đã được kiểm chứng.
-
Khả năng đáp ứng nhanh nhu cầu khách hàng.



