MPI RF Probes – Giải pháp kiểm thử RF chính xác và hiệu quả

MPI RF Probes đóng vai trò quan trọng trong quá trình kiểm thử wafer RF, khi chúng chuyển đổi năng lượng điện từ từ cáp đồng trục đến DUT (Device Under Test) trên wafer và các pad tiếp xúc. Việc chuyển đổi này cần đảm bảo tối thiểu hóa méo tín hiệu và tổn hao năng lượng, mang lại độ chính xác cao trong kiểm thử.

Trong thực tế, các loại RF DUTs rất đa dạng – từ phần tử rời rạc đến các IC phức tạp hoạt động trên dải tần rộng. Do đó, công nghệ RF probe phải đáp ứng:

• Hỗ trợ nhiều dải tần số và pitch khác nhau.

• Đa dạng cấu hình đầu kim (tip configurations).

• Tối ưu chi phí và tuổi thọ probe, ảnh hưởng trực tiếp đến Cost of Test (COT).

TITAN™ RF Probes – Giải pháp tối ưu cho ứng dụng RF tiên tiến

Với sự hiểu biết sâu sắc về các thách thức trong ứng dụng RF hiện đại, MPI Corporation đã phát triển dòng sản phẩm TITAN™ RF Probes – tối ưu hóa cho khách hàng RF tiên tiến. Dòng probe này kết hợp công nghệ MEMS độc quyền của MPI, mang lại:

• Hiệu suất cao cho các ứng dụng RF phức tạp.

• Độ tin cậy vượt trội trong dải tần rộng.

• Quy trình sản xuất hiện đại, chất lượng hàng đầu.

Multi-Contact Probes – Mở rộng khả năng kiểm thử RF IC

Kiểm thử và debug các IC RF hiện đại đòi hỏi nhiều hơn các đầu vào/ra RF thông thường. DUT thường cần thêm:

• Nguồn bias ổn định không dao động.

• Tín hiệu điều khiển số (ví dụ: điều chỉnh gain của amplifier).

Multi-Contact Probe mở rộng công nghệ TITAN™ RF của MPI để đáp ứng nhu cầu này, với các đặc điểm:

• Lên đến 15 contact, mỗi contact có băng thông RF lên đến 6 GHz.

• Pitch từ 50 đến 300 μm, cấu hình linh hoạt theo yêu cầu sản phẩm.

• Sử dụng linh kiện chuẩn “off-the-shelf”, giúp thời gian giao hàng nhanh.

• Có thể bắt đầu kiểm thử IC RF chỉ sau 1 tuần nhờ công cụ thiết kế online của MPI.